高光谱测试系统-上海ca88科学仪器有限公司

    产品中心

    PRODUCTS CNTER

    当前位置：首页产品中心光谱系统高光谱测试系统高光谱测试系统

    高光谱测试系统

    产品简介

    高光谱测试系统基于offner型的凸面光栅分光系统，其原理新颖，相比较其他分光系统具有光学相对孔径大、色散线性度好、结构 紧凑和图像成像质量佳等优点。

    产品型号：
    更新时间：2025-01-22
    厂商性质：生产厂家
    访问量：1838
    详细介绍在线留言

    高光谱测试系统

     

    • 基于offner型的凸面光栅分光系统，其原理新颖，相比较其他分光系统具有光学相对孔径大、色散线性度好、结构 紧凑和图像成像质量佳等优点。该种类型组成的成像光谱仪在效率（能量利用率）和光学畸变相比较其他类型的成 像光谱仪中性能表现.佳。系统中由于采用专门研制的闪耀光栅，平均效率高达60%以上，替代了美国headwall 高效率成像光谱仪系列产品（注：该类型产品被美国列为为禁运）。匹配的相机采用SCMOS相机，平均量子效率 高达60%，灵敏度和性能达到了EMCCD 相机的水平。

    高光谱测试系统核心优势：

    • 全反射光学设计； F/2.2 大通光孔径
    • 高效率凸面光栅；消除梯形失真和曲线弯曲
    • 宽波谱范围；杰出的光谱/空间分辨率
    • 理想的弱照明、弱信号环境下的应用
    • 结构紧凑、宽视场角
    • 非常高的信噪比；低散射或者杂散光水平
    • 稳定和耐用的坚固设计；高性价比，多种标准镜头选配

    名称

    VNIR成像光谱仪

    SWIR成像光谱仪

    SWIR成像光谱仪

    光谱范围（nm）

    400-1000

    900-1700

    1000-2300

    分光类型

    凸面光栅分光

    光谱分辨率（狭缝25um）

    3-4 nm

    优于10 nm

    10nm

    光谱分辨率（狭缝12um）

    1.5-2 nm

    优于5nm

    /

    光学孔径F/#

    F/2.2

    狭缝高度

    12mm

    像素色散值

    0.6nm

    3.6nm/pixel

    7nm

    光谱波长精度（nm)

    优于1

    优于2

    优于4

    光学系统效率（平均）

    60%

    光谱通道

    256-1152(可编程）

    220

    空间通道

    2048

    320

    SCMOS相机

    像元：6.5um*6.5um像元 数：2048*1152 QE＞70%@595nm

    像元：15um*15um 像元数：640*512

    像元：30um*30um 像元数：320*256

    数据量化位数

    16

    12

    前置镜头

    焦距17mm

    焦距4.8-70mm,可选配

    仪器重量（kg）

    4.2

    4.5

    尺寸（mm)

    215*175*110

    260*175*110

    在线留言

    留言框

    • 产品：

    • 您的单位：

    • 您的姓名：

    • 联系电话：

    • 常用邮箱：

    • 省份：

    • 详细地址：

    • 补充说明：

    • 验证码：

      请输入计算结果（填写阿拉伯数字），如：三加四=7

    Copyright © 2025 上海ca88科学仪器有限公司 AlL Rights Reserved
    备案号：沪ICP备31668633号-2

    技术支持：化工仪器网   管理登录   sitemap.xml

    扫码添加微信
    微信

    联系

    18117546256

    联系
    顶部
    ca88